Origine structurale et chimique de l'activité électrique des joints de grains dans le silicium

Abstract

Cet article présente un bilan des études que nous avons menées sur les joints de grains dans le silicium par microscopie électronique en transmission et à balayage (SEM/EBIC). Le principal résultat est que la structure cristalline ne gouverne, en général, pas seule les propriétés électriques des joints. Un défaut cristallin agit d'abord sur les phénomènes de diffusion et de ségrégation d'impuretés. L'ensemble a alors ses propres propriétés électriques