Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique

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Abstract
Article Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique was published on May 1, 1993 in the journal tm - Technisches Messen (volume 60, issue 5).