A aplicação de técnicas de confiabilidade permite descrever o comportamento de falhas em equipamentos. O presente trabalho tem como objetivo modelar o tempo de vida de um transístor por meio da análise de confiabilidade paramétrica. O método de pesquisa utilizado consistiu no estudo de caso, com a coleta dos tempos de falhas de 24 transístores. Métodos gráficos e analíticos foram utilizados, por meio do software ProConf, para verificar que a distribuição que melhor se ajusta aos dados é a distribuição Weibull. As funções de confiabilidade e de risco foram apresentadas. O risco crescente e a confiabilidade decrescente, associados ao fato do parâmetro de forma ser maior que um, indicam um desgaste do equipamento. Isso corresponde ao início da mortalidade senil, fase final de sua vida útil.